2005 – 2009

From general statements made about the cooling of the CCD sensor within image luminance measuring devices (ILMD), one tends to conclude that cooling has an important effect on the luminance measurement results. However, this general statement is not valid. Based on a detailed model for the properties and the operation of ILMDs, we present the results of the measurements for parameters of cooled and non-cooled systems. The influence of the two different parameter sets on the results of luminance measurements is illustrated for variations in the signal level and the temperature conditions. In summary, it can be said that only for very special applications does the cooling of the CCD have a significant influence on the measurement uncertainty associated with the luminance measurement results. Normally, one can compensate for the little drawbacks of non-cooled systems by selecting the most appropriate measuring algorithms.

Das Erstellen von physikalischen Strahlenmodellen ist äußerst aufwendig und kann die Realität immer nur endlich genau erfassen. Gemessene Strahlendaten beschreiben die Lichtquelle dagegen genau. Die ermittelten Werte verbessern die Simulation von Leuchtquellen, beschleunigen den Entwicklungsprozess und lassen sich in die Datenformate der gängigen Simulationswerkzeuge exportieren.

Messbare Parameter und Kennwerte bilden die Grundlage für jede Beurteilung der Systemeigenschaften digitaler Kameras. Besonders wichtig ist dabei eine anschauliche Darstellung der relevanten Messwerte. Im folgenden Beitrag werden Methoden vorgestellt, die es ermöglichen, solche Messergebnisse "auf einen Blick" einzuschätzen. Außerdem werden verschiedene Methoden zur Bestimmung der relativen spektralen Empfindlichkeit von CCD-Sensoren erläutert.

Für die Entwicklung und Bewertung von Leuchten ist die Messung der Lichtstärkeverteilungscharakteristik (LVK) wesentlich. Moderne Reflektorsysteme von Leuchten oder Scheinwerfern und die Simulation von LED Baugruppen erfordern oftmals die reale Ausstrahlungscharakteristik der Leuchtmittel, die entweder durch komplexe Simulationen oder durch Messungen ermittelt werden. Vielfache Anwendung finden gemessene Strahlendaten (4D Leuchtdichtedaten), die üblicherweise von den Lampen- bzw. LED – Herstellern zur Verfügung gestellt werden oder auf einem geeigneten Meßsystem gemessen werden können.

In their paper, the authors compare the calculation of the measurement uncertainty of the f1' value, with calculations made using two different approaches. The f1' value was used as an example for the integral parameter on the basis of spectral data. By means of the V(λ) function, this parameter, which has remained very popular in the quality assessment of measuring devices used in photometry, is determined using a non-linear evaluation function.

Zur Beurteilung von grundlegenden Eigenschaften digitaler Kameras sind Parameter und Kennwerte dieser Systeme zu bestimmen. Imfolgenden Beitrag werden ausgewählte Dunkel- und Hellsignalparameter (Grundrauschen, Übertragungsfunktion und Defektpixel) bestimmt und mit Hilfe von Mittelwert-Var-ianz-Histogrammen anschaulich dargestellt. Weiterhin wird auf die Bestimmung der relativen spektralen Empfindlichkeit von CCD-Sensoren eingegangen, wobei verschiedene Methoden erläutert werden.

The spatially resolved determination of light- and radiation-physical quantities is being applied in many fields of the automobile industry (development and production control). In our paper presented at the PAL2003 we dealt with the fundamentals of the spatially resolved luminance and color measurement technology. Our follow-up paper presents some applications for which the functionality of both hard- and software has been designed to suit directly the requirements of the automobile industry. First, we will explain methods for symbol measurement in the field of interior night design and the functional design of automotive and plane cockpits. In the second part, we will deal with the measurement of arc and filament lamps.

The ray data measured by means of modern near-field goniophotometers open up new ways in the development of optical systems. For numerous applications, synthetic models of radiation characteristics are insufficient for realistic optical simulations. The near-field goniophotometers type RiGO801 developed by the TechnoTeam company measures the real 4D- luminance distribution of measuring objects and provides ray data for various simulation programs.

Der f1’-Kennwert (DIN 5032 T6 bzw. CIE Pub. 69) ist einer der gefragtesten Kennwerte bei der Bewertung der spektralen Anpassung von Photometern, obwohl die Angabe dieses kennwertes in der Praxis nur sehr bedingt Aussagen über die zuerwartenden Messabweichungen auf Grund der spektralen Anpassung erlaubt. Die Berechnung des Kennwertes aus Integralverhältnissen ist zwar einfach, die Abschätzung der beigeordneten Messunsicherheit ist jedoch schwierig und von vielen verschiedenen Beiträgen abhängig [1]. Dies gilt insbesondere dann, wenn die Bestimmung der spektralen Empfindlichkeit eines Gesamtsystems nur rechnerisch aus den Messergebnissen verschiedener Teilkomponenten erfolgen kann. Im Folgenden wird auf der Basis zweier Ansätze aus [2]und [3] und unter Verwendung von Messunsicherheiten beigeordnet den Komponenten eines optischen Systems die Messunsicherheit des zugehörenden f1’-Kennwertes bestimmt. Dabei werden nur die Messunsicherheiten der spektralen Messgrößen berücksichtigt. Messunsicherheitsbeiträge im Zusammenhang mit der Wahl der Abtastintervalle, der verwendeten spektralen Bandbreite bei den Messungen und der Bestimmung der Wellenlänge selbst werden nicht behandelt, da sie ausführlich in [4] erläutert wurden.

Bildauflösende Licht- und Farbmesstechnik