SPIE AR/VR

26/01/19 - 26/01/22

San Francisco, USA

Auf der SPIE AR/VR 2026 präsentieren wir an unserem Stand #6417 unsere neuesten Lösungen für die Messtechnik von Near-Eye-Display-Headsets (NED), darunter:
▶️ LMK 6 Bildgebende Licht- und Farbmessgeräte
▶️ NED Messoptiken für die absolute, präzise, kompakte und effiziente Messung und Charakterisierung von NED-Headsets
▶️LED-RIGO Charakterisierung von Mikrodisplays: Messung von Rayfiles und winkelaufgelösten Lichtstärkeprofilen sowie Spektralverteilungen
Unsere Systeme ermöglichen eine zuverlässige Bewertung wichtiger visueller Leistungsparameter und eignen sich sowohl für Forschungs- und Entwicklungsumgebungen als auch für Produktionsbereiche.

Wir laden Sie außerdem herzlich ein zu unserer Präsentation "Compact metrology for AR projectors and AR devices" am 19. January 2026 • 9:20 AM - 9:40 AM PST | Room 2010 (Moscone West, Level 2)
Link: Compact-metrology-for-AR-projectors-and-AR-devices